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光學薄膜厚度測量儀F37

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單價: 面議
起訂: 1 1臺
供貨總量: 1 1臺
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
所在地:
有效期至: 長期有效
最后更新: 2021-04-22
瀏覽次數(shù): 8368
詢價
公司基本資料信息
 
 
產(chǎn)品詳細說明
  • 產(chǎn)品型號:F37
  • 產(chǎn)品規(guī)格:
  • 原 產(chǎn) 地:美國
  • 適用范圍:可以測量平滑和半透明的,或者輕度吸收的薄膜。 這實際上包括那些使用在薄膜光伏產(chǎn)品內(nèi)的任何半導(dǎo)體材料。
  • 詳細描述:產(chǎn)品簡介:
             用F37實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數(shù)(n和k值)和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性。
             樣品層:
             可以測量平滑和半透明的,或者輕度吸收的薄膜。 這實際上包括那些使用在薄膜光伏產(chǎn)品內(nèi)的任何半導(dǎo)體材料。
    產(chǎn)品特性:
             極大地提高生產(chǎn)率
             快速—幾秒鐘完成測量
             精確—測量精度高于±1%
             低成本—幾個月就能回收其自身的成本
             非侵入式—測試完全在沉積室以外進行
             易于使用—直觀的Windows™ 軟件
  • 售后服務(wù):
 
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