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公司基本資料信息
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手持式涂鍍層測(cè)厚儀 CMI243 介紹
牛津儀器CMI233測(cè)量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度,用于緊固件、螺栓、汽車部件、齒輪、管件等表面鍍層。
技術(shù)規(guī)格:
CMI243配置包括:
CMI243探針狀況:
CMI243的ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
*小凸面半徑 | *小凹面半徑 | 工作高度 | *小測(cè)量面積直徑 | *小底材厚度 |
1.2mm (0.045") | 3.5mm (0.135") | 100mm (4") | 2.5mm (0.09") | 0.3mm(12mils) |
操作范圍
鐵上鍍層 | 鍍層厚度范圍 | 探頭 |
Zn | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Ni | 0-75μm(0-3.0mil | ECP-M |
Cd | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cr | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cu | 0-10μm(0-0.4mil) | ECP-M |
非磁性/Fe | 0-1270μm(0-50mil) | SMP-1 |
售后服務(wù)
儀器自購(gòu)買后享有自購(gòu)買日期計(jì)起為期一年的保固期。